差示掃描量熱法測量涂膜中鋅粉含量
設(shè)備
差示掃描量熱儀(DSC);熱分析固體鋁皿;瑪瑙研缽;涂膜刮刀;高純氮氣;精密天平。差示掃描量熱儀是分析設(shè)備,主要有三部分構(gòu)成:冷卻系統(tǒng)、加熱及功率平衡系統(tǒng)、數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。
檢測條件的設(shè)置
掃描的溫度
鋅的熔點為419℃左右,ASTM規(guī)定測量涂膜中鋅粉含量時,儀器的掃描溫度為(370~435)℃,在這個溫度區(qū)間內(nèi)鋅的狀態(tài)發(fā)生改變,儀器采集樣品隨溫度的變化而產(chǎn)生的能量變化曲線,即DSC曲線。如果掃描溫度設(shè)置過寬,使儀器掃描時間延長,溫度滯留現(xiàn)象加重,造成掃描曲線托尾;溫度設(shè)置過窄,可能造成能量變化曲線采集不*,樣品還沒有*熔融,系統(tǒng)溫度就已經(jīng)開始回冷,造成準(zhǔn)確度不好。
掃描的速率
在DSC的測定中,程序升溫掃描速率主要對DSC曲線的峰溫和峰形產(chǎn)生影響(見圖2)。一般來說,當(dāng)升溫掃描速率比較快時,其DSC的峰溫越高,峰面積變大,峰形也越尖銳。測量涂膜中的鋅粉含量如果使用過高的升溫掃描速率,會導(dǎo)致涂膜試樣內(nèi)部溫度分布不均勻。當(dāng)超過一定的升溫掃描速率時,由于體系不能很快響應(yīng),試樣反應(yīng)中的變化全貌不能被地記錄下來,另外,升溫掃描速率過快,會產(chǎn)生過熱現(xiàn)象,損壞儀器。在ASTM中規(guī)定,測量涂膜中鋅粉含量時的掃描速率為10℃/min。
基線的校正儀器在做空白試驗時的基線應(yīng)為一條直線或是比較對稱的S形線,好的基線是準(zhǔn)確計算峰面積的基礎(chǔ)。樣品池的潔凈程度,樣品池蓋子的位置和保護(hù)氣源等都會對基線造成不良影響,可以把空白基線作為一個文件保存,然后在進(jìn)行樣品測定時,將其在得到的DSC曲線中扣除,這樣就盡可能小的避免基線差異對測量結(jié)果帶來的影響。
溫度的校正
在實際的DSC測量中要獲得度高的溫度值與峰形的關(guān)系曲線,必須用高純物質(zhì)的熔點或相變溫度進(jìn)行校驗。一般采用的是高純銦(99.999%)進(jìn)行溫度的校正。
量熱的校正
在DSC的測定中,量熱的校正是以已知標(biāo)準(zhǔn)純物質(zhì)的相變熱焓值進(jìn)行校驗的,測量涂膜中的鋅粉含量,以標(biāo)準(zhǔn)純鋅(99.999%)進(jìn)行校驗。
標(biāo)準(zhǔn)物純鋅的相變焓值應(yīng)在(107.6~109.3)J/g,如果儀器測量標(biāo)準(zhǔn)物純鋅的相變焓值在此范圍之內(nèi),則說明儀器此時的量熱掃描系統(tǒng)比較好,此時的測量結(jié)果應(yīng)該比較準(zhǔn)確。在每次測量前都要進(jìn)行純鋅量熱校正,并記錄該焓值數(shù)據(jù),以該焓值數(shù)據(jù)計算樣品中的鋅含量。
檢測的基本過程
樣品的制備
用涂膜刮刀小心均勻地刮下涂膜,不能刮傷底材,防止底材中的鐵屑混入涂膜樣品中,刮下涂膜的面積至少為(12.7×12.7)mm(ASTM中規(guī)定),刮下來的涂膜要經(jīng)過瑪瑙研缽研磨,使樣品的粒度盡可能地小,這樣可以有效地減少因為樣品粒度大而產(chǎn)生的過多空間熱阻,熱阻使試樣的熔融溫度和熔融熱焓偏低,給分析帶來誤差。
樣品的稱量
將研磨的樣品充分?jǐn)嚢杈鶆颍Q量樣品(3~6)mg
?。ㄈ绻麡悠妨窟^少,降低了測量的靈敏度,樣品量過多,不僅使試樣內(nèi)部傳熱變慢,溫度梯度變大,導(dǎo)致峰形擴(kuò)大,分辨率下降,而且涂膜中的有機(jī)物揮發(fā)大量的雜質(zhì)污染爐體,影響儀器的度。)用藥匙將樣品均勻地平鋪于鋁皿的底部,盡量增大試樣與鋁皿底部的接觸面積,減少試樣在鋁皿中的厚度,保證樣品在加熱過程中均勻受熱,加蓋密封,檢查有無外泄物。
測試計算
在純氮的環(huán)境下,樣品進(jìn)行相轉(zhuǎn)變動態(tài)分析,從(370~435)℃以10℃/min
的升溫速率升溫,儀器采集到樣品在加熱過程中熱量的變化,形成一吸熱曲線峰,計算曲線峰的面積,將吸熱曲線峰的面積換算成樣品中鋅發(fā)生相變的焓值J/g,該焓值與標(biāo)準(zhǔn)物純鋅焓值的比值即為該樣品中純鋅的含量。
Zn%=(J/g)樣/(J/g)純×100
在相同條件下,平行測量三個樣品對比,取平均結(jié)果。
檢測誤差產(chǎn)生的幾種原因
(1)樣品缺乏代表性。取樣不均或是取樣規(guī)模小。
(2)樣品處理不當(dāng),刮涂膜時混入底材鐵屑樣品研磨粒度太大,使堆積樣品中有大量的空間,產(chǎn)生了空間熱阻。
(3)盛放樣品的鋁皿底部在密封過程中變形,形成了凹凸表面,與樣品池不能良好地接觸,使其在加熱過程中受熱不均;放在參比池的空白鋁皿與盛放樣品的鋁皿間的質(zhì)量差異過大,空白扣除不理想;鋁皿外側(cè)沾染樣品污染爐體。
(4)參比池與樣品池爐溫差異過大,對于功率補(bǔ)償型DSC,爐溫至關(guān)重要,兩池的爐溫應(yīng)該在程序溫度控制下保持高度一致。
為避免以上原因產(chǎn)生的誤差應(yīng)該均勻取樣,增加樣品樣本容量,研磨后用磁鐵吸走混入的鐵屑,準(zhǔn)確稱量樣品,加蓋密封后,用毛刷對鋁皿外延及其底部仔細(xì)除雜,放入樣品池時仔細(xì)檢查鋁皿外觀,經(jīng)常對儀器進(jìn)行維護(hù),檢測前對儀器的各項設(shè)置條件進(jìn)行檢查和校正。